TM-4.4.1 (K2)テストプロセスとソフトウェア開発プロセスのプロセス能力を評価するために、欠陥レポートの統計情報をどのように使用するかを説明する。

欠陥情報がプロセス改善の取り組みを支援する例

* 混入、検出、除去の情報に含まれるフェーズ情報をフェーズごとに使用して、フェーズ内阻止を評価し、各フェーズでの欠陥検出効率を改善する方法を提案する。
* 混入フェーズの情報を、最多数の欠陥が混入したフェーズのパレート分析用に使用して、欠陥の総数を削減するための的を絞った改善を行う。
* 欠陥の根本原因情報を使用して欠陥混入の基になる理由を確認し、欠陥の総数を削減するためのプロセス改善を行う。
* 混入、検出、除去の情報に含まれるフェーズ情報を使用して品質コスト分析を実行し、欠陥により発生するコストを最小化する。
* 欠陥コンポーネントの情報を使用して、欠陥の偏在の分析を実行し、テクニカルリスク(リスクベースドテストの場合)の理解を深め、問題の多いコンポーネントのリエンジニアリングを可能にする。

問題