性能・画像評価を覚える！

画像均一性

＜NEMA＞
ファントム
頭 部 用：直径10cmの円 or 保証範囲の85％のうち大きい方
体幹部用：直径20cmの円 or 保証範囲の85％のうち大きい方

温度：22±4℃

撮像条件
TR：内容物のT1値の5倍以上
TE：臨床で使用される範囲
スライス厚：10mm以下
Matrix：128×128以上
FOV：RFコイルの最大径の110％を超えない
SE法

■得られた画像に9点ローパスフィルタ処理をする
■ROIはファントム領域の75％に設定
■最大値・最小値からスパン・中央値を求め,不均一度・均一度を計算
◇　スパン(Δ)＝(Smax-Smin)/2
◇　中央値(S)＝(Smax+Smin)/2
◇　不均一度(N)＝100(Smax-Smin)/ (Smax+Smin)
◇　均一度(U)＝100-N

■5段階スケールマップで視覚的に画像均一性を確認
■標準平均絶対偏差：NAADを使用した評価法→ノイズの影響が少ない
■PIU→100ピクセル程度の平均信号値から評価する方法

＜NEMA以外＞　表面コイルを使用する場合
■フィルタ処理の有無それぞれに対してＳＮＲと画像均一性の評価を同時に行う

＜IEC＞
■平均絶対偏差：AADを使用

スライス厚

＜NEMA＞
ファントム
2枚の楔型三角錐が交差したスライス厚用測定ファントム
→回転補正のため
ウエッジの角度：5～15°

撮像条件
TR：内容物のT1値の3倍以上or1000msのうち大きい方
TE：臨床で使用される範囲
スライス厚：臨床で使用される範囲
Matrix：256×256以上
FOV：ピクセルサイズ≦スライス厚/(20×tanα)を満たす設定
SE法,マルチスライスで少なくとも3枚
スライス間距離：予想される半値幅の2倍以上

■スライス厚＝FWHM×tan𝛼
■スライス厚に影響を与える因子：磁場の不均一,RFパルスの不均一,傾斜磁場の不均一など

歪み

＜NEMA＞
ファントム
装置の保証範囲をカバーできる大きさの立方体 or 球体
リング,穴,ピンなど保証範囲の境界を定義できる構造物

温度：22±4℃

撮像条件
TR：臨床で使用される範囲
TE：臨床で使用される範囲
スライス厚：10mm以下
Matrix：最大保証範囲の1％以下で正方形
FOV：最大保証範囲を含める
2DSE法,シングルスライスで3方向

■各画像上でファントム中心を通る壁面間距離を測定
■測定間隔は等間隔に45度以下で4本以上
■測定された値とファントム実寸サイズの誤差割合を計算し,最大誤差を表記
■歪み率の許容範囲は5％以内が望ましい　

SNR

＜NEMA＞
ファントム
頭 部 用：直径10cmの円 or保証範囲の85％のうち大きい方
体幹部用：直径20cmの円or保証範囲の85％のうち大きい方
T1値＜1200ms
T2値＞50ms

温度：22±4℃

撮像条件
TR：内容物のT1値の3倍以上
TE：臨床で使用される範囲
スライス厚：10mm以下
Matrix：128×128以上
FOV：RFコイルの最大径の110％を超えない
SE法が望ましいが必ずしもこの限りではない,シングルスライスのAx面

■2回撮像による差分法.5分以内に同一条件
■ROIは断面の少なくとも75％を囲む
■表面コイルは使用できない
■Parallel imagingを使用してはいけない
◇　S＝(Mean1-Mean2)/2
◇　N=SDsub/√2
◇　SNR=√2×S/SDsub

＜NEMA以外＞　表面コイルを使用する場合
■フィルタ処理の有無それぞれに対してSNRと画像均一性の評価を同時に行う

＜NEMA以外＞　Parallel imagingを使用する場合
■アレイコイルを使用するため位置依存性がある.
■ジオメトリ―ファクタ(g),リダクションファクタ(R)の影響がある.
◇　SNR(PI)=SNR(full)/g√R
◇　SNR∝V√{(Ny×NEX)/BW}

空間分解能

＜IEC＞
ファントム
■厚さ(L-d)のプレートが間隔dで10枚以上積み重なる形状
■ファントム角度：10～15度
■d/L=0.61～0.70
■y軸方向(a)の長さは少なくともLの10倍以上
■z軸方向の長さ(b)は少なくともスライス厚の2倍以上

■この画像から得られるのはx軸に沿った方向の空間分解能.
■ROI内の信号値と標準偏差から平均MTFを測定することができる.