性能評価 NEMA・IEC
性能評価のNEMA法・IEC法の対策問題です。
★過去問Check★
第20回(22)均一性
第19回(22)均一性(23)ゴーストアーチファクト(25)空間分解能
第18回(24)均一性(25)スライス厚
第17回(24)均一性(25)歪み
第16回(24)スライス厚(43)均一性
第15回(24)歪み(25)空間分解能
第14回(13)均一性(14)スライス厚(15)SNR
第13回(4)歪み(5)SNR
第12回(4)均一性(5)歪み(8)空間分解能
第11回(35)均一性
第10回(36)均一性(37)歪み
第9回(35)均一性
第7回(27)スライス厚
第6回(32)スライス厚
第5回(37)SNR(38)スライス厚
過去問は日本磁気共鳴専門技術者認定機構のホームページにPDFデータが公開されておりますのでそちらをご活用ください★
問題1 画像均一性
NEMAにおける均一性測定について正しい記述を選択してください.
スライス厚は10mm以上にする.
データ収集マトリクスは256×256以上にする.
TR は信号発生物の T1値の3倍以上にする.
スパンΔは(Smax-Smin)/2である.
均一度は 100×(Smax-Smin)/(Smax+Smin)で算出する.
表面コイルを使用する際は適正な感度補正処理を必ず施行する.
AAD(absolute average deviation)は,極端に大きな偏差のピクセルの影響を受けやすい.
NAAD(normalized absolute average deviation)は絶対偏差から均一性を評価する方法であり,ノイズの影響を受けにくい.
PIU(peak deviation non-uniformity)とは,100ピクセル程度の平均信号値から評価する方法である.
撮像画像に9点ローパスフィルター処理を行う.
NEMAのグレイスケールマップは平均値からの信号差によって9段階に割り振る.
画像フィルタを用いる.
FOVはRFコイルの最大径の120%に設定する.
測定ROIはファントム領域の75%を含むように設定する.
ファントム温度は20±4℃とする.
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