｢エレクトロマイグレーションの基本メカニズム｣を技術トレンドキーワードに追加しました。
エレクトロマイグレーション (Electromigration) は、電子デバイス内部の金属配線において、強い電流密度の影響で金属原子が移動する現象を指します。この現象は、電子が金属内を流れる際に原子に衝突し、微小な力を与えることで引き起こされます。以下に、その基本メカニズムと影響を詳しく説明します。
1. 主な要因
2. 影響を受けやすい条件
3. 結果と影響
4. 影響を抑えるための対策
詳細は当社HPをご確認ください。